High Accuracy Fluorescence Guided Focused Ion Beam Milling
Ce papier présente des flux de travail avancés de fraisage cryo-FIB guidé par fluorescence qui exploitent des stratégies de ciblage distinctes pour différentes tailles d'objets afin de surmonter les erreurs de recalage et de permettre la capture systématique et de haute précision de structures cellulaires à la fois grandes et petites pour la tomographie électronique cryogénique.